DCテスタ『431-TT』SiC,GaN測定効率大幅UP! パワーデバイス測定に最適です!

DCテスタ『431-TT』SiC,GaN測定効率大幅UP! パワーデバイス測定に最適です!

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DCテスタ『431-TT』SiC,GaN測定効率大幅UP! パワーデバイス測定に最適です! 431-TT

大電流・高圧測定、高速・パラレル測定にも対応!柔軟で多様なシステム構成が可能です

『431-TT』は、パワーデバイス測定のノウハウを継承し、かつV/Iソース測定モジュールを採用した新しいコンセプトのDCテスタです。顧客要望に応じてモジュール追加が可能となる柔軟なシステム構成をしており、大電流・高圧測定、高速・パラレル測定にも対応し、オペレーション画面上での波形モニタなどのメンテナンス機能も兼ね備えています。

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形式

431-TT

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納期目安

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中国国内在庫

なし

対応規格

CE

URL

http://www.tesec.co.jp/product/discrete/431tt/

対象業界

半導体・液晶・FPD 

企業情報

株式会社テセック (TESEC) 株式会社テセック (TESEC)

製品・サービス特長

■VI ソースメジャモジュール構成
■本体で1.2KV/130A(最大2.2KV/200A)まで測定可能
■最大8KV / 1200A 印加可能 *外部オプションユニット
■高速測定
■マルチデバイステスト(2in1デバイスなど2DUT同測)
■ウェハパラレルテスト(2チップの同測)

用途/使用例

1000台以上の販売実績がある881-TTシリーズの最新機種。国内外の大手IDM, OSATに導入済。GaN、SiCデバイスなど化合物デバイスの測定、また大電流、高圧テスト要求もオプションを加える事で柔軟に対応可能です。

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