DCテスタ『471-TT』　SiC, GaNデバイス測定効率大幅UP

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DCテスタ『471-TT』　SiC, GaNデバイス測定効率大幅UP 471-TT

複数デバイス同時測定によるコストパフォーマンス向上！2KV/20Aの測定が可能です

『471-TT』は、長年蓄積してきた測定技術を活用することにより、ウェハ測定工程における複数デバイス（前工程ウエハ / 後工程個片化デバイス）の同時測定を実現。
当社の強みである高電圧・大電流測定技術も継承。複数チップを同時測定処理することにより従来テスタに比べ大幅な生産性の向上を図ることができます。

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形式	471-TT
価格	お問い合わせください
納期目安	お問い合わせください
中国国内在庫	なし
対応規格	CE
URL	http://www.tesec.co.jp/product/discrete/471tt/
対象業界	半導体・液晶・FPD

企業情報

株式会社テセック (TESEC)

製品・サービス特長

■複数デバイス（前工程ウエハ / 後工程個片化デバイス）の測定
■8パラレル/16パラレルによるコストパフォーマンスの向上
■リレー切換の高速化により、測定時間の短縮を実現
■当社の測定技術を生かし、パラレル測定においても安定した測定を実現
　（Max 2kV/20A）
■電圧/電流制限設定が可能なため、プローブピンへの負荷を軽減が可能
■あらかじめ設定された印加可能最大電流値（プローバチャックの電流容量値）
　以下となるように、同時に測定するチップ数を自動で分割設定

用途/使用例

前工程ウエハ / 後工程個片化デバイス用ディスクリートデバイスを複数個同時測定処理（パラレル測定）可能なテスタ。パラレル測定を行う事で１ウエハの測定時間を大幅に短縮可能です。横型構造GaNデバイスで要求のあるドレイン端子への印加/検出ラインをチャンネル毎に出力する機能を実装。国内外の大手IDM、OSATに数十台納めた実績があります。