フィルムフレームテストハンドラ『4170-IH』 QFN,DFN測定効率大幅UP!

フィルムフレームテストハンドラ『4170-IH』 QFN,DFN測定効率大幅UP!

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フィルムフレームテストハンドラ『4170-IH』 QFN,DFN測定効率大幅UP! 4170-IH

高耐荷重・高精度ステージと強力かつ豊富な位置補正機能により、多数個同時測定による高スループットを維持しつつ安定した測定を実現。

『4170-IH』は、QFN、BGA、WLCSPなどのリードレスデバイスをダイシング後、そのままウェハリング上でテストするフィルムフレームテストハンドラです。
測定前に画像処理で高精度に位置補正(xyzθ)をすることにより、デバイスとコンタクタの正確な位置情報を取得します。これによりプローブピンの最適な測圧がストリップ上の全デバイスを通して保たれます。その他豊富な機能を背景に、高パラレル測定、高スループットを維持しつつ安定した測定を実現します。
多くのテスタとの接続実績も豊富にあります。

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形式

4170-IH

価格

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納期目安

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中国国内在庫

なし

対応規格

CE / S2S8

URL

http://www.tesec.co.jp/product/4170ih/

対象業界

半導体・液晶・FPD 

企業情報

株式会社テセック (TESEC) 株式会社テセック (TESEC)

製品・サービス特長

■多数個同時測定によりハイスループットを実現
■JAMフリーの安定搬送
■高耐荷重、高精度XYZθテーブル
■高解像度カラーカメラ搭載
■縦300mm×横300mm以内(φ300mmウエーハ対応)
■バーコード/2DコードリーダによるLOT管理対応
■品種切替は測定ソケット交換と画面設定だけの簡単交換
■オートクリーニング機構搭載
■8/12インチリングのコンバージョンが可能
■SEMI S2S8規格対応
■SECS/GEM対応

用途/使用例

QFNやDFN等のリードレスPKGを対象にダイシング後のテスト工程における生産効率を飛躍的に向上させるソリューションです。
4170-IHは最大255個のデバイスをマルチサイトで測定が可能です。
シリーズ累計300台以上の納入実績が有り測定機(4170-IH)と収納機(4605-HTR)の両方を提供できます。

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