Inductive Load (LV) Tester

Inductive Load (LV) Tester

Inductive Load (LV) Tester

パワー半導体の定格限界での信頼性評価テスタ

MOSFETの誘導負荷におけるターンオフ時の波形を監視し、V-GATE、IH、ILで規定された安全領域(SOA)を通過するかを判定するテスタです。更にIHで規定された電流値におけるVDS(SUS)値を測定します。また、MOS-FETの低ON抵抗化が進んだ事により測定時の印加電流が高くなる傾向があります。従来の測定方式では印加電流が印加電圧に制限されてしまう為、中耐圧品(数十V)では測定が困難となることがあります。
新規測定方式(アバランシェ時にVD電源を切り離すVD-OFFモード, 電流印加から指定時間経過後デバイスをターンオフするTime-Tripモード)を可能とすることで前述の大電流測定のご要求に応えました。加えて印加電圧、印加電流をそれぞれ300V、200Aと拡張し、より広範囲のデバイスのテストが可能になりました。

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対象業界

電子部品・電気部品  半導体・液晶・FPD  計測・分析機器

企業情報

株式会社テセック (TESEC) 株式会社テセック (TESEC)

製品・サービス特長

■特徴
・同一ステーションでN/P両極性を測定することが可能
・アバランシェ測定時のピーク電流 (IDP)を測定可能
・ゲートON時間が測定可能
・リピートテストが最大250回可能
・マルチテスト機能(ドレイン電圧は変更不可)
・最大60測定プログラムを保存可能
・VD-OFFモード
・SELF-CHECK機能
・Time-Tripモード

■ソフトウエアオプション例
・PCによるテスタコントロールソフトウエア (テストプログラム作成、データ収集、 カウンタ収集)

用途/使用例

前工程ウエハ上、または 後工程個片化デバイス用ディスクリートデバイスの信頼性評価テスタとして使用可能。

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UIS tester

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