静态测试机431-TT - 提升SiC/GaN(碳化硅/氮化镓)器件测试效率, 最适用于分立器件的测试

在全亚洲开展业务的制造行业的基础

静态测试机431-TT - 提升SiC/GaN(碳化硅/氮化镓)器件测试效率, 最适用于分立器件的测试 431-TT

431-TT 通过模块化板卡的形式提供了浮动电源，V-I源/测量单元架构成测试平台，具备了高功率、高精度、高速源测量和波形显示功能，同时还可添加多个模块化SMU来满足测试通道数需求。

型号	431-TT
价格	面议　立即询价
交期目标	敬请咨询
中国国内库存	没有
规格	CE
URL	http://cn.tesec.co.jp/products/discrete/431tt/
行业	半导体・液晶・FPD

■测试精度高可靠
V-I 源/测量单元结构
浮动电源更精确
系统配置高精度5位A/D转换
■高速测试和据数传输，
满足多器件测试和晶元并行测试
■日常维护方便
配备测试波形监视显示功能
系统配置灵活可外接大电流/高电压单元

431-TT是Tesec集多年测试领域经验，
不同于以往的任何型号，最新研发并且已经得到主流客户认可及验证1000台以上的一款高速直流参数分立器件测试系统。

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