静态测试机431-TT - 提升SiC/GaN(碳化硅/氮化镓)器件测试效率, 最适用于分立器件的测试_产品、服务

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静态测试机431-TT - 提升SiC/GaN(碳化硅/氮化镓)器件测试效率, 最适用于分立器件的测试

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静态测试机431-TT - 提升SiC/GaN(碳化硅/氮化镓)器件测试效率, 最适用于分立器件的测试 431-TT

高速并行测试,支持高流、高压,系统配置多样

431-TT 通过模块化板卡的形式提供了浮动电源,V-I源/测量单元架构成测试平台,具备了高功率、高精度、高速源测量和波形显示功能,同时还可添加多个模块化SMU来满足测试通道数需求。

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型号

431-TT

价格

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中国国内库存

没有

规格

CE

URL

http://cn.tesec.co.jp/products/discrete/431tt/

行业

半导体・液晶・FPD 

公司信息

株式会社TESEC 株式会社TESEC

产品、服务特点

■测试精度高可靠
V-I 源/测量单元结构
浮动电源更精确
系统配置高精度5位A/D转换
■高速测试和据数传输,
满足多器件测试和晶元并行测试
■日常维护方便
配备测试波形监视显示功能
系统配置灵活可外接大电流/高电压单元

用途/应用实际事例

431-TT是Tesec集多年测试领域经验,
不同于以往的任何型号,最新研发并且已经得到主流客户认可及验证1000台以上的一款高速直流参数分立器件测试系统。

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