Parallel Tester for Discrete or wafer SIC/GaN(碳化硅/氮化镓）471-TT 多通道静态测试机

Parallel Tester for Discrete or wafer SIC/GaN(碳化硅/氮化镓）471-TT 多通道静态测试机 - 使SIC、GaN器件测试效率大幅提升 471-TT

471-TT 作为专门为晶元测试设计的一款机型，
代表了TESEC高电压、高流测试技术，
最大能够满足晶元16通道并行测试。

（Wafer level Test＋Chip Test）

■ 高性能低成本
最大2KV/20A
多通道并行测试（8/16 Site）
高速数据传输/测试回路功能
■ 具有电压/电流钳位功能/最大程度做到过流保护
■ 表格式程序编辑
■ 适合各种数据分析软件

上市1年间已超过20台能够同时测定多个晶圆
(8/16 并行测试)的测试器，可以大大缩短1个晶圆的
测量时间。增加选件可以测试GaN器件，对有要求的
漏极端子施加输出检测的功能。

Parallel Tester for Discrete or wafer SIC/GaN(碳化硅/氮化镓）471-TT 多通道静态测试机 - 使SIC、GaN器件测试效率大幅提升_产品、服务