Parallel Tester for Discrete or wafer SIC/GaN(碳化硅/氮化镓)471-TT 多通道静态测试机 - 使SIC、GaN器件测试效率大幅提升_产品、服务

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Parallel Tester for Discrete or wafer SIC/GaN(碳化硅/氮化镓)471-TT 多通道静态测试机 - 使SIC、GaN器件测试效率大幅提升

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Parallel Tester for Discrete or wafer SIC/GaN(碳化硅/氮化镓)471-TT 多通道静态测试机 - 使SIC、GaN器件测试效率大幅提升 471-TT

2KV/20A 多通道并行测试系统,

471-TT 作为专门为晶元测试设计的一款机型,
代表了TESEC高电压、高流测试技术,
最大能够满足晶元16通道并行测试。

(Wafer level Test+Chip Test)

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型号

471-TT

价格

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中国国内库存

没有

规格

CE

行业

半导体・液晶・FPD 

公司信息

株式会社TESEC 株式会社TESEC

产品、服务特点

■ 高性能低成本
最大2KV/20A
多通道并行测试(8/16 Site)
高速数据传输/测试回路功能
■ 具有电压/电流钳位功能/最大程度做到过流保护
■ 表格式程序编辑
■ 适合各种数据分析软件

用途/应用实际事例

上市1年间已超过20台能够同时测定多个晶圆
(8/16 并行测试)的测试器,可以大大缩短1个晶圆的
测量时间。增加选件可以测试GaN器件,对有要求的
漏极端子施加输出检测的功能。

目录

Parallel Tester for Discrete or wafer SIC/GaN(碳化硅/氮化镓)471-TT 多通道静态测试机 - 使SIC、GaN器件测试效率大幅提升

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