Film Frame Map handler / 4170-IH使QFN、DFN类的测试效率大大提升

Film Frame Map handler / 4170-IH使QFN、DFN类的测试效率大大提升 4170-IH

“4170-IH”是一款针对蓝膜框架开发的分选测试设备，
适用于已切割qfn，csp等引脚朝上的器件，直接在圆环上进行测试。
通过高精度可视位置（xyzθ）的调整和确认，外加平稳的针卡下压，可确保稳定高速的测试。

型号	4170-IH
价格	面议　立即询价
交期目标	敬请咨询
中国国内库存	没有
规格	CE / S2S8
URL	http://cn.tesec.co.jp/products/4170ih/
行业	半导体・液晶・FPD

■高吞吐量
■高负荷量、高推动力
■更大的条形覆盖范围
・竖260mm×横300mm以内（WLCSP在φ300mm以内）
■条形码/2维码读取，对应LOT管理
■只需要简单的CK交换即可对应各种产品

该解决方案可在无引线pkg（如qfn和dfn）的测试过程中显著提高生产效率。

4170-IH可支持多达255个并行测试设备。
此系列累计售出300台以上，并且可以同时提供测试与分选的整套解决方案（4170-IH➕4605-HTR）

Film Frame Map handler / 4170-IH使QFN、DFN类的测试效率大大提升_产品、服务